AX / AX R with NSPARC

超解像共焦点レーザー顕微鏡システム

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仕様

スキャンヘッド AX AX R
FOV Φ25mm
標準画像取得 FOV 25mm ガルバノスキャナー
最大 8192 x 8192 画素
最速毎秒 240 フレーム（512 x 16 画素）
毎秒 10 フレーム（512 x 512 画素）
最短0.2マイクロ秒のピクセル滞留時間
ラインスキャン、双方向スキャン、アベレージング（ラインおよびローリング）に対応
高速画像取得 — FOV 25mm レゾナントスキャナー（２Kまたは１K）
最大 2048 x 2048 画素：2K、最大 1024 x 1024 画素：1K
最速毎秒 720 フレーム（2048 x 16 画素：2K、1024 x 16 画素：1K）
毎秒 30 フレーム（2048 x 512 画素：2K、1024 x 512 画素：1K）
ラインスキャン、双方向スキャン、
アベレージング（ラインおよびローリング）に対応
5チャンネル（透過ディテクターを含む）同時観察可能
Denoise.ai機能を標準搭載
ダイクロイックミラー ポジション：6
ピンホール

６枚羽根による可変絞り
入出力ポート 標準：レーザー入力ポート×1、レーザー出力ポート×1（FCファイバーコネクション）

オプションでレーザー入力ポート×1、レーザー出力ポート×1を追加可能（FCファイバーコネクション）
ディテクター AX AX R
ディテクターユニットDUX-ST 2チャンネルまたは４チャンネル
最大18個のバンドパスフィルター
マルチアルカリPMTまたはGaAsP PMTを選択可能
ディテクターユニットDUX-VB 2チャンネルまたは４チャンネル
波長可変型フィルターLVF（精度：± 1nm、最大66チャンネル）
最大12個のバンドパスフィルター
マルチアルカリPMTまたはGaAsP PMTを選択可能
ディテクターユニットNSPARC 水平解像度：100nm*1、Z軸方向解像度：300 nm*1
SPPC（Single Pixel Photon Counter）アレイ搭載
吸収フィルター搭載数：最大7枚（励起波長405nm/445nm/488nm/514nm/561nm/594nm/640 nmに対応）
ガルバノスキャナー使用時：X解像度64～8192ピクセル、Y解像度2～8192ピクセルで使用可能
レゾナントスキャナー使用時：X解像度256/512/1024ピクセル、Y解像度128～1024ピクセルで使用可能*2
透過ディテクター AX透過ディテクターユニット AX-DUT
PMT光電面 : マルチアルカリ、検出波長範囲 : 400〜750 nm
オプションAXAX R
電動XYZ駆動 電動XYステージ （Ti2-E/Ni-E用）、高速Zステージ 100 μm （Ti2-E用）、高速対物ピエゾ 200 μm（Ni-E/FN1用）、高速対物ピエゾ 450 μm（Ni-E/FN1用）
光刺激モジュール
（Ti2-E用）		 ・XYガルバノスキャニングユニット （光源 : レーザーユニット LUA-S シリーズ）
・DMDモジュール （光源 : レーザーユニット LUD-H4）
刺激形状 : ROI、ライン、ポイント
刺激方式 : シーケンシャル、同時
ソフトウェアAXAX R
画像取得・解析 画像統合ソフトウェア NIS-Elements C または NIS-Elements C-ER
表示・画像取得 2次元解析、3次元ボリュームレンダリング/オーソゴナル、4次元解析、スペクトラルアンミックス
画像形式 ND2、TIFF、BMP、AVI、GIF、ICS/IDS、JPG、JP2、JFF、JTF、PNG
アプリケーション FRAP、FLIP、FRET（オプション）、光刺激、3次元タイムラプス、マルチポイントタイムラプス、コローカリゼーション
制御装置AXAX R
ワークステーション HP Z4 G4 Workstation
OS Microsoft Windows® 10 Pro 64bit、Microsoft Windows® 11 Pro
CPU Intel® Xeon W-2225X
RAM 64 GB
HDD 1st： HP Z Turbo 512GB SSD（OS インスト－ル/画像取得用）
2nd： SATA 2TB HDD（データ保存用）
LAN ギガビットイーサネット・インターフェイス × 1
10 ギガビットイーサネット・インターフェイス × 1
グラフィック

NVIDIA Quadro RTX A 4500 以上
モニター 解像度 : 2560 x 1440 以上
AX AX R
レーザー 最大8つの可視/近赤外レーザー（オプションのレーザー入力ポート併用の場合）
搭載可能レーザー：（標準）405 nm、445 nm、488 nm、514 nm、561 nm、594 nm、640 nm
（オプション）NIRイメージングオプション使用時は730 nmまたは785 nmが搭載可能
ファイバー出射端 15 mW以上、AOTF内蔵
対応顕微鏡 ・研究用倒立顕微鏡 ECLIPSE Ti2-E
・研究用正立顕微鏡 ECLIPSE Ni-E （ステージ上下動タイプ /対物上下動タイプ）
・研究用対物上下動式正立顕微鏡 ECLIPSE FN1
Zステップ Ti2-E: 0.01 μm/0.02 μm（エンコーダー制御時）、Ni-E: 0.025 μm、FN1ステッピングモーター: 0.05 μm
設置条件 温度 23 ± 5 ºC、湿度 70 % RH 以下 （結露なきこと）

*1 488 nmの励起で、直径40 nmのビーズ（水平解像度）/直径100 nmのビーズ（Z軸方向解像度）を用いて測定した解像度。実際の分解能は、レーザー波長や顕微鏡の構成により異なります。
*2 2048ピクセルは設定できません。