
ハイコンテントアナリシスオプション
画像取得から解析までをカバーし、ハイコンテントイメージングのためのトータルソリューションを提供します。顕微鏡や周辺デバイスの制御からデータ解析や管理に至るまで、シームレスなワークフローを実現します。

特長・機能
高速性と柔軟性
複数のウェルプレートを使用した画像取得・データ表示・解析・管理が、高速かつ自動的に行えます。
NIS-Elements HCでは、ウィザード形式のGUIにより、簡単に実験がセットアップできます。ウェルプレートの構成、プレートの操作、オートフォーカス、フィルター切り替え、ディテクターなどの画像取得パラメーターも簡単に設定できます。

①全般的なパラメーター設定
・Zシリーズ
・サンプルラベル
・オートフォーカス
② 画像取得のオプティカルコンフィグレーションの設定
③ ウェルプレート設定
・使用するウェルプレートの設定
・画像取得するウェルプレートの選択
・ウェル内のXY画像取得パターンの設定
④ 解析の設定
プレートビュー
ヒートマップ

サンプルラベル