仕様

N-SIM-E

水平解像度

115 nm *1 (3D-SIMモード)

Z軸方向解像度

269 nm *1(3D-SIMモード)

画像データ取得時間

最速1秒/枚(3D-SIM)

画像取得モード

3D-SIM 画像構築方式:スライス、スタック(オプション)

多色画像対応

3色

使用レーザー

LU-N3-SIMレーザーユニット
488 nm, 561 nm, 640 nm

対応顕微鏡

電動倒立顕微鏡ECLIPSE Ti2-E
パーフェクトフォーカスシステム
エンコーダー内蔵電動XYステージ
電動吸収フィルターホイール
ピエゾZ ステージ(オプション)

対物レンズ

CFI SR HP アポクロマート TIRF 100XC Oil (NA 1.49)
CFI SR HP アポクロマート TIRF 100XAC Oil (NA 1.49)
CFI SR プランアポクロマート IR 60XC WI (NA 1.27)
CFI SR プランアポクロマート IR 60XAC WI (NA 1.27)
CFI プランアポクロマート Lambda 60XC (NA 0.95)*2
CFI プランアポクロマート Lambda 40XC (NA 0.95)*2

使用カメラ

浜松ホトニクス社製sCMOSカメラ ORCA-Flash 4.0

ソフトウェア

NIS-Elements ArまたはC (共焦点レーザー顕微鏡併設時)
どちらも別売のNIS-A 6D, N-SIM Analysis
モジュールが必要

設置条件

20~28℃、温度変動 ±1.5℃以内

*1 488nmの励起で、直径100nmのビーズを用いて測定した解像度。実際の分解能はレーザー波長や顕微鏡の構成により異なります。

*2 スライス画像構築に対応。