N-SIM S
Super-Resolution-Mikroskopsystem
Eingestellt
Spezifikationen
| N-SIM S | |
|---|---|
| Laterale Auflösung (FWHM von beads in xy) | 115 nm*1 im 3D-SIM Modus, 86 nm*2 im TIRF-SIM Modus |
| Axiale Auflösung (FWHM von beads in z) | 269 nm*1 im 3D-SIM Modus |
| Bildaufnahmerate | Bis zu 15 fps (TIRF-SIM/2D-SIM, 2 msec pro Bild ) |
| Rekonstruierte Bildgröße | 1024 x 1024 Pixel, 2048 x 2048 Pixel |
| Modi der Bildaufnahme | TIRF-SIM 2D-SIM 3D-SIM (Rekonstruktionsmethode: Schnittstapel) |
| Mehrfarb-Bildaufnahme | Bis zu 6 Farben |
| davon simultan | 2 Farben |
| Kompatible Laser | LUD-H Serie Lasereinheit (TIRF-SIM) Standard: 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm |
| Kompatibles Mikroskop | Motorisiertes, inverses Mikroskop ECLIPSE Ti2-E Perfect Focus SystemMotorisierter XY Tisch mit Encodern Piezo Z stage |
| Objektive | CFI SR HP Plan Apochromat Lambda S 100XC Sil (NA1.35) CFI SR HP Apochromat TIRF 100XC Oil (NA 1.49) CFI SR HP Apochromat TIRF 100XAC Oil (NA 1.49) CFI SR Plan Apochromat IR 60XC WI (NA 1.27) CFI SR Plan Apochromat IR 60XAC WI (NA 1.27) CFI Plan Apochromat Lambda 60XC (NA 0.95)*3 CFI Plan Apochromat Lambda D 40XC (NA 0.95)*3 |
| Kamera | ORCA-Fusion BT camera (Hamamatsu Photonics K.K.) |
| Software | NIS-Elements AR NIS-Elements C (für Konfokales Mikroskop AX/AX R) Beide Softwarepakete benötigen zusätzliche Softwaremodule NIS-A 6D und N-SIM Analysis |
| Betriebsumgebungsbedingungen | 20 ℃ to 28 ℃ (± 1.5 ℃) |
*1 Diese Werte wurden gemessen an 100 nm beads mit 488 nm Laser-Anregungslicht. Die aktuelle Auflösung hängt von der Wellenlänge des Laserlichts und der optischen Konfiguration ab.
*2 Diese Werte wurden gemessen an 40 nm beads mit
488 nm Laser-Anregungslicht. Die aktuelle Auflösung hängt von der Wellenlänge des Laserlichts und der optischen Konfiguration ab.
*3 Unterstützt 2D-SIM and 3D-SIM (Rekonstruktion aus Stapeln von Bildebenen).
Produktbroschüre
