Super-Resolution-Mikroskopsystem

Spezifikationen

N-SIM S
Laterale Auflösung (FWHM von beads in xy) 115 nm*1 im 3D-SIM Modus, 86 nm*2 im TIRF-SIM Modus
Axiale Auflösung (FWHM von beads in z) 269 nm*1 im 3D-SIM Modus
Bildaufnahmerate Bis zu 15 fps (TIRF-SIM/2D-SIM, 2 msec pro Bild )
Rekonstruierte Bildgröße 1024 x 1024 Pixel, 2048 x 2048 Pixel
Modi der Bildaufnahme TIRF-SIM
2D-SIM
3D-SIM (Rekonstruktionsmethode: Schnittstapel)
Mehrfarb-Bildaufnahme Bis zu 6 Farben
davon simultan 2 Farben
Kompatible Laser LU-NV Serie Lasereinheit

Standard: 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm
Option: 445 nm

LUD-H Serie Lasereinheit (TIRF-SIM)
Standard: 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm
Option: 445 nm, 515 nm

Ziva Light Engine Serie Lasereinheit (2D/3D-SIM)
405 nm, 446 nm, 476 nm, 518 nm, 545 nm, 637 nm

Kompatibles Mikroskop

Motorisiertes, inverses Mikroskop ECLIPSE Ti2-E

Perfect Focus System
Motorisierter XY Tisch mit Encodern
Piezo Z stage
Objektive CFI SR HP Plan Apochromat Lambda S 100XC Sil (NA1.35)
CFI SR HP Apochromat TIRF 100XC Oil (NA 1.49)
CFI SR HP Apochromat TIRF 100XAC Oil (NA 1.49)
CFI SR Plan Apochromat IR 60XC WI (NA 1.27)
CFI SR Plan Apochromat

IR 60XAC WI (NA 1.27)
CFI Plan Apochromat Lambda 60XC (NA 0.95)*3
CFI Plan Apochromat Lambda 40XC (NA 0.95)*3
Kamera ORCA-Fusion BT camera (Hamamatsu Photonics K.K.)
Software NIS-Elements AR
NIS-Elements C (für Konfokales Mikroskop AX/AX R)

Beide Softwarepakete benötigen zusätzliche Softwaremodule NIS-A 6D und N-SIM Analysis

Betriebsumgebungsbedingungen 20 ℃ to 28 ℃ (± 1.5 ℃)

*1 Diese Werte wurden gemessen an 100 nm beads mit 488 nm Laser-Anregungslicht. Die aktuelle Auflösung hängt von der Wellenlänge des Laserlichts und der optischen Konfiguration ab.
*2 Diese Werte wurden gemessen an 40 nm beads mit 488 nm Laser-Anregungslicht. Die aktuelle Auflösung hängt von der Wellenlänge des Laserlichts und der optischen Konfiguration ab.
*3 Unterstützt 2D-SIM and 3D-SIM (Rekonstruktion aus Stapeln von Bildebenen).