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Super-Resolution-Mikroskop-System

Spezifikationen

N-SIM-E

Laterale Auflösung (FWHM von beads in xy)
115 nm*1 in 3D-SIM mode
Axiale Auflösung (FWHM von beads in z) 269 nm*1 in 3D-SIM mode
Bildaufnahmerate Up to 1 sec/frame (3D-SIM)
Modi der Bildaufnahme 3D-SIM (Rekonstruktionsmethoden: slice, stack)
Mehrfarb-Bildaufnahme Up to 3 colors
Kompatible Laser LU-NV Serie Lasereinheit
488 nm, 561 nm, 640 nm
Kompatibles Mikroskop Motorisiertes inverses Mikroskop ECLIPSE Ti2-E

Perfect Focus System
Motorisierter XY-Tisch mit
Motorisiertes Emissionsfilterrad
Piezo Z stage

Objektive CFI SR HP Apochromat TIRF 100XC Oil (NA 1.49)
CFI SR HP Apochromat TIRF 100XAC Oil (NA 1.49)
CFI SR Plan Apochromat IR 60XC WI (NA 1.27)
CFI SR Plan Apochromat IR 60XAC WI (NA 1.27)
CFI Plan Apochromat Lambda 60XC (NA 0.95)*2
CFI Plan Apochromat Lambda 40XC (NA 0.95)*2
Kamera ORCA-Flash 4.0 sCMOS camera (Hamamatsu Photonics K.K.)
Software NIS-Elements Ar
NIS-Elements C (für Konfokales Mikroskop A1+/A1R+)

Beide Softwarepakete benötigen zusätzliche Softwaremodule NIS-A 6D und N-SIM Analysis
Betriebsumgebungsbedingungen 20 ℃ to 28 ℃ (± 1.5 ℃)

*1 Diese Werte wurden gemessen an 100 nm beads mit 488 nm Laser-Anregungslicht. Die aktuelle Auflösung hängt von der Wellenlänge des Laserlichts und der optischen Konfiguration ab.

*2 Unterstützt Rekonstruktion aus Bildebenen ("slice").