N-SIM E
Super-Resolution-Mikroskop-System
Eingestellt
Spezifikationen
| N-SIM E | |
|---|---|
Laterale Auflösung (FWHM von beads in xy) |
115 nm*1 in 3D-SIM mode |
| Axiale Auflösung (FWHM von beads in z) | 269 nm*1 in 3D-SIM mode |
| Bildaufnahmerate | Up to 1 sec/frame (3D-SIM) |
| Modi der Bildaufnahme | 3D-SIM (Rekonstruktionsmethoden: slice, stack) |
| Mehrfarb-Bildaufnahme | Up to 3 colors |
| Kompatible Laser | LU-NV Serie Lasereinheit 488 nm, 561 nm, 640 nm |
| Kompatibles Mikroskop | Motorisiertes inverses Mikroskop ECLIPSE Ti2-E
Perfect Focus System |
| Objektive | CFI SR HP Apochromat TIRF 100XC Oil (NA 1.49) CFI SR HP Apochromat TIRF 100XAC Oil (NA 1.49) CFI SR Plan Apochromat IR 60XC WI (NA 1.27) CFI SR Plan Apochromat IR 60XAC WI (NA 1.27) CFI Plan Apochromat Lambda 60XC (NA 0.95)*2 CFI Plan Apochromat Lambda D 40XC (NA 0.95)*2 |
| Kamera | ORCA-Fusion BT sCMOS camera (Hamamatsu Photonics K.K.) |
| Software | NIS-Elements AR Beide Softwarepakete benötigen zusätzliche Softwaremodule NIS-A 6D und N-SIM Analysis |
| Betriebsumgebungsbedingungen | 20 ℃ to 28 ℃ (± 1.5 ℃) |
*1 Diese Werte wurden gemessen an 100 nm beads mit 488 nm Laser-Anregungslicht. Die aktuelle Auflösung hängt von der Wellenlänge des Laserlichts und der optischen Konfiguration ab.
*2 Unterstützt Rekonstruktion aus Bildebenen ("slice").
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