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NIS-Elements

Estamos monitoreando atentamente la situación respecto al COVID-19 (coronavirus) y siguiendo las pautas de los Centros para el Control y la Prevención de Enfermedades (CDC) y las autoridades de salud federales, estatales y locales. Obtenga más información sobre las medidas que hemos implementado.

 

Paquete de análisis y adquisición de alto contenido de HC

NIS-Elements HC proporciona soporte de adquisición a análisis para experimentos de imágenes de alto contenido, desde el control integrado del microscopio invertido motorizado Eclipse Ti2-Ede Nikon y dispositivos periféricos como cargadores de placas multi-pocillo y cámaras CCD, hasta la gestión de datos. La nueva interfaz de software desarrollada por Nikon está diseñada específicamente para obtener imágenes de múltiples puntos dentro de un pozo y en una placa multi-pocillo, y funciona con módulos dedicados de análisis automatizados.


Características principales

Velocidad y flexibilidad

Agiliza la adquisición de placas multi-pocillo de alta velocidad, la revisión de datos, el análisis y la gestión de múltiples experimentos de placas multi-pocillo.

El interfaz de NIS-Elements HC simplifica la configuración del experimento utilizando asistentes de configuración. Defina fácilmente los parámetros de adquisición que incluyen la configuración de la placa del pozo, el manejo de la placa, el enfoque automático, el cambio de filtros y los detectores.

Define general job parameters

• Z-stack
• Sample labelling
• Autofocus
•Sending task completion by e-mail or SNS

Well plate setting

• Define well plate to use
• Select well plate for image capture
• Define XY image capture pattern inside a well

Define optical configurations for image capture

Define analysis


Revisión

Visualización en tiempo real de la adquisición de datos y el progreso del análisis para una inspección instantánea. Se pueden ejecutar múltiples análisis de distinto tipo simultáneamente durante la fase de generación de imágenes o después de la adquisición en estaciones sin conexión.


Análisis

Los mapas de calor de placas multi-pocillo, imágenes de muestra, máscaras binarias, resultados de análisis, etiquetas de muestra y otros metadatos están centralizados para un rápido filtrado, selección y profundización hasta el detalle celular.


Creación de Gráficos

Crea gráficas al instante para la revisión de datos. Clasificar, filtrar, mosaico, etiquetar puntos de datos de diferentes tipos de gráficos. NIS-Elements ofrece histograma, diagrama de dispersión, gráfico de barras, línea XY, clasificación y funciones de activación. Navegue fácilmente dentro de la Vista de placa y exporte a Excel o mapa de bits.


See for yourself…test our deconvolution for free!

NIS-Elements offers advanced 3D and 2D deconvolution modules for improving image quality. Upload your image to our NIS-Elements deconvolution test site to see the difference.

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