El microscopio invertido digital de arquitectura abierta
El ECLIPSE Ji (Ji) es el primer microscopio invertido de grado de investigación totalmente digital de Nikon. Sin oculares, este microscopio está diseñado para facilitar su aprendizaje y uso, manteniendo al mismo tiempo la calidad óptica óptima y el gran campo de visión (FOV) por el que son conocidos los microscopios Nikon.
Además, el sistema de enfoque perfecto (PFS) de cuarta generación de Nikon está integrado en Ji para una observación confiable de muestras a largo plazo.
La carcasa integrads de Ji significa que los usuarios pueden examinar sus muestras en entornos muy iluminados o incluso de forma remota, utilizando el detector CMOS de grado científico incorporado, o utilizar cualquier otro número de opciones de detector posibles, según la aplicación de investigación.
ECLIPSE Ji configurado con el sistema confocal AX-NSPARC
Características principales
Microscopio digital/amplia variedad de óptica
Ji es compatible con una amplia variedad de objetivos de investigación de Nikon, incluidos los objetivos de inmersión (agua, silicio y aceite), lo que hace que el microscopio se pueda configurar de manera flexible para una variedad de aplicaciones de investigación.
Corrección de enfoque en tiempo real con Perfect Focus System
El Perfect Focus System (PFS) corrige automáticamente la desviación del enfoque causada por cambios de temperatura y vibraciones mecánicas, que pueden generarse por una variedad de factores, incluida la adición de reactivos a la muestra o imágenes de múltiples posiciones.
El PFS mantiene el enfoque detectando y siguiendo la posición de la superficie del cubreobjetos en tiempo real. La exclusiva tecnología de compensación óptica permite a los usuarios mantener el enfoque en una posición deseada desplazada de la superficie del cubreobjetos. El PFS mantiene el enfoque de forma automática y continua mediante un codificador lineal incorporado y un mecanismo de retroalimentación de alta velocidad, proporcionando imágenes altamente confiables incluso durante tareas de adquisición de imágenes complejas y a largo plazo.
Neutrófilos que fluyen en los vasos sanguíneos (lapso de tiempo)
Imágenes cortesía de: Profesor Masaru Ishii, Departamento de Inmunología y Biología Celular, Facultad de Medicina, Universidad de Osaka
Puerto de imágenes de 25 mm que permite una vista grande de la muestra
Danio sp. 2d+ embrión 4X
Ji ofrece un campo de visión (FOV) de 25 mm, capturando el doble de datos en una sola imagen en comparación con la tecnología anterior. El amplio campo de visión proporciona imágenes increíblemente planas de borde a borde, incluso con cámaras sCMOS de formato grande, permitiendo a los usuarios extraer datos cuantitativos de toda la imagen.
Navegación y detección mejoradas mediante herramientas de inteligencia artificial
Detección automática de tipo de placa y visualización virtual para navegación.
Ideal para imágenes y análisis automatizados
ECLIPSE Ji configurado con disco giratorio Yokogawa CSU-W1
Ji está diseñado para ser más simple de operar: incluye herramientas para ayudar en el enfoque, la selección de longitud de onda, así como herramientas de imágenes como corrección de sombreado y compensaciones de enfoque. Herramientas opcionales como la deconvolución pueden integranse fácilmente.
Debido a que Ji puede ser la plataforma para una gran cantidad de detectores posibles, existe una amplia caja de herramientas de análisis y procesamiento disponible.
Expandabilidad incorporada
Ji está diseñado para integrar fácilmente herramientas de imágenes adicionales a medida que las necesidades de la investigación evolucionan con el tiempo, incluidas cámaras ambientales, dispositivos automáticos de inmersión de objetivos, unidades piezoeléctricas de enfoque rápido y más.
Aviso: la opción CREST está disponible en regiones limitadas.
La base para una variedad de opciones de detectores
Ji incluye un detector CMOS monocromático integrado de forma predeterminada y se pueden integrar fácilmente detectores adicionales en el soporte según las necesidades de la aplicación. Los sistemas confocales de barrido de punto y campo, los sistemas de superresolución y otros detectores de grado científico pueden instalarse fácilmente en un puerto óptico FOV de 25 mm.
Microscopio de ensayo ECLIPSE Ji
La arquitectura base Ji también está disponible como microscopio de ensayo de sobremesa listo para usar, con ensayos de escaneo de placas automatizados predefinidos y fáciles de usar y resultados ricos en datos.
*El diseño y las especificaciones pueden diferir del producto real.
Folleto del producto
Microscopios digitales
- ECLIPSE Ji
- ECLIPSE Ui