Il microscopio invertito digitale ad architettura aperta
ECLIPSE Ji (Ji) è il primo microscopio invertito di Nikon per la ricerca completamente digitale. Privo di oculari, questo microscopio è progettato per essere facile da utilizzare e rapido da imparare, pur mantenendo la qualità ottica ottimale e l’ampio campo visivo (“field of view”, FOV) per cui i microscopi Nikon sono noti.
Inoltre, il sistema di messa a fuoco perfetta (PFS) di quarta generazione di Nikon è integrato in Ji per un’osservazione dei campioni attendibile a lungo termine.
L’involucro integrato di Ji consente agli utenti di osservare i propri campioni in ambienti luminosi o anche in remoto, utilizzando il rilevatore CMOS incorporato, o di utilizzare un numero qualsiasi di altre possibili opzioni del rilevatore, a seconda dell'applicazione nella ricerca.
Caratteristiche principali
Microscopio digitale / Ampia scelta di obiettivi
Ji è compatibile con un’ampia varietà di obiettivi per ricerca Nikon, inclusi obiettivi ad immersione (acqua, silicone e olio), rendendo il microscopio configurabile in modo flessibile per una varietà di applicazioni nella ricerca.
Correzione della messa a fuoco in tempo reale con Perfect Focus System
Il Perfect Focus System (PFS) corregge automaticamente la deriva della messa a fuoco causata da cambiamenti di temperatura e vibrazioni meccaniche, che possono essere generate da una varietà di fattori, tra cui l'aggiunta di reagenti al campione o l'imaging multiposizione.
Il PFS mantiene la messa a fuoco rilevando e monitorando la posizione della superficie del vetrino coprioggetto in tempo reale. L'esclusiva tecnologia di offset ottico consente agli utenti di mantenere la messa a fuoco alla distanza desiderata dalla superficie del vetrino coprioggetto. Il PFS mantiene automaticamente e continuamente la messa a fuoco mediante un codificatore lineare integrato e un meccanismo di feedback ad alta velocità, fornendo immagini altamente attendibili, anche durante attività di imaging complesse e a lungo termine.
Porta di imaging da 25 mm che consente un’ampia visualizzazione del campione
Ji offre un campo visivo (FOV) di 25 mm che cattura 2 volte più dati in una singola immagine rispetto alla tecnologia precedente. Il campo visivo ampio fornisce immagini incredibilmente piane da un bordo all'altro, anche con telecamere sCMOS di grande formato, consentendo agli utenti di estrarre dati quantitativi dall'intera immagine.
Ideale per imaging e analisi automatizzati
Ji è progettato per essere più semplice da utilizzare: gli strumenti per assistere l’utente nella messa a fuoco, nella selezione della lunghezza d’onda, nonché gli strumenti di imaging come la correzione dell'ombreggiatura e gli offset della messa a fuoco, sono integrati nel microscopio. Inoltre, strumenti opzionali come la deconvoluzione sono facilmente integrabili.
Poiché Ji può essere la piattaforma per un gran numero di possibili rilevatori, è disponibile un’ampia gamma di strumenti di analisi ed elaborazione.
Espandibilità incorporata
Ji è progettato per poter integrare facilmente strumenti di imaging aggiuntivi man mano che le esigenze di ricerca si sviluppano nel tempo, tra cui camere ad atmosfera controllata, dispositivi di immersione automatica degli obiettivi, unità piezoelettriche a messa a fuoco rapida e altro ancora.
La base per una varietà di opzioni di rivelatori
Ji include un rilevatore CMOS monocromatico incorporato e ulteriori rilevatori possono essere facilmente integrati nel supporto a seconda delle esigenze. I sistemi confocali a scansione puntiforme e dell’intera superficie, i sistemi a super risoluzione e altri rilevatori possono essere facilmente montati su una porta ottica FOV da 25 mm.
Microscopio per saggi ECLIPSE Ji
L’architettura di base Ji è disponibile anche come microscopio da banco per saggi “chiavi in mano”, con test predefiniti di scansione automatizzata delle piastre, facili da usare e con un output ricco di dati.
*Il design e le specifiche potrebbero differire dal prodotto reale.