专注于 超分辨率

用户友好的超分辨率技术可轻松应用于各种样品类型。

超分辨率结构化照明显微术（SIM）是一种革命性的成像技术，可将3D宽场显微镜的分辨率提高一倍。在样品平面处利用光束干涉进行结构化照明，产生衍射极限和正弦图案相干的明暗条纹。图案中存在的单个空间频率与包括样本结构的各种空间频率混合。简而言之，通常在显微镜带通之外的空间频率可以通过频率混合进行人工下调，从而允许它们在后处理中进行间接检测和随后的恢复。与x，y和z中的典型宽场显微镜的光学分辨率相比，SIM可以提供高达2倍的改进。

• 尼康新推出的 N-SIM S 系统采用空间光调制器（SLM）进行图案生成，拍摄频率高达每秒15帧。采集速率的提高对于活细胞成像尤其有用，同时也缩短了获取z轴序列和其他尺寸所需的时间。N-SIM S能在3D-SIM，2D-SIM和2D TIRF SIM的模式下进行同时或连续多色成像，并且支持多种类型的物镜。
• N-SIM E 系统是原始N-SIM系统的价值实现，使用单个衍射光栅提供3个激光波长的3D-SIM成像。
• 在我们的应用报告中了解N-SIM纳米粒子的反射光成像。

强大的超分辨率技术，可将光学分辨率提升到极限。

与宽视场成像相比，随机光学重建显微镜（STORM）和类似技术利用单分子定位的概念将光学分辨率提高约10倍。用多种光化学技术实现“关闭”标记样品的大多数荧光团。通过一次“接通”少量荧光团，可以容易地识别单个发射事件，并且它们的中心位置在统计上适合于子衍射受限体素。用户可能期望XY的分辨率约为20 nm，Z的分辨率约为70 nm。请注意，STORM需要专门的样品标记和成像缓冲系统， 才能实现单分子定位。

• 尼康的 N-STORM 5.0 系统采用基于我们的完美聚焦系统（PFS ）的专有z轴序列程序，支持用户在样品深度为5 + μm以及可变TIRF /倾斜照明下成像。
• 尼康新推出的100x硅油镜头（NA = 1.35）专为活细胞STORM和其他单分子成像实验而设计，可在水性介质中实现卓越的球差校正。也适用于使用N-SIM S成像较厚的样品和活体样品。
• N-STORM 5.0与其他单分子定位显微术兼容。点击了解如何使用N-STORM进行DNA-PAINT实验

用于尼康A1型共聚焦显微镜的ER模块可实现近乎超分辨率的成像。

虽然人们早就知道反卷积分析可用于改善共聚焦显微镜数据的信噪比和光学分辨率，但直到最近才开始常规地这样做。多年前，即使是很小数据量的反卷积也需要处理一夜，这使得非专业人员无法广泛使用。现代计算机，改进的算法和GPU加速大大减少了执行反卷积所需的时间，使其成为几乎所有成像工作流程的简单添加。尼康的增强分辨率（ER）软件模块提供了针对点扫描共焦数据设计的反卷积算法，并使用针对尼康CFI系列物镜专用的点扩散函数（PSF）模型。
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这款新物镜具有自动校正环对齐，这对于在敏感的超分辨率实验中校正球差至关重要。

球差是最常见的光学像差之一，限制了高分辨力显微镜的性能。许多物镜包括校正环以校正由盖玻璃厚度的变化和样品介质的折射率引起的球差。然而，校正环调整可能很繁琐（特别是对于多个样本）并且难以识别最佳位置。尼康的自动校正环（ACC）系列超分辨率显微镜物镜可确保您的样品具有最高程度的球差校正，并结合 NIS-Elements 软件中的自动调整程序。ACC物镜可用于最大化任何系统的分辨率性能，其版本可用于我们的100x HP Apo TIRF Oil、100x SR Apo TIRF Oil、和60x SR Plan Apo水浸物镜。

采用完美对焦的Eclipse Ti2-E电动倒置显微镜是超分辨率成像的优化平台。

如果不确保最大的系统稳定性，就无法实现超分辨率的全部优势。通常用传统技术无法察觉的微小焦点漂移可能足以损害超分辨率数据收集。Ti2-E 倒置研究级显微镜平台采用全新的基于凸轮连杆的Z轴调焦机制，可消除XY漂移，为要求苛刻的应用提供超稳定平台。Ti2-E还采用了尼康最新一代的完美对焦系统（PFS4），这是业界领先的锁焦技术。利用线性编码器和高速反馈机制，PFS4可校正由温度变化和机械振动引起的焦点漂移。PFS4的新模块化设计将探测器部分与物镜转盘分开，以减轻z轴驱动器的负担，并且几乎消除了热量输出，从而提供了令人难以置信的稳定成像环境。