个人用的超分辨率显微镜,提供与N-SIM S相同的高分辨率
N-SIM E是一款流线型、价格合理的超分辨率系统,可提供传统光学显微镜两倍的分辨率。结合N-SIM E和共聚焦显微镜,您可以灵活地在共聚焦图像中选择一个位置,并轻松切换至超分辨率模式,从而获得更多细节。
主要特性
分辨率为传统光学显微镜的2倍
借助尼康创新的结构化照明显微方法,并与尼康著名的高数值孔径物镜(NA值高达1.49)相结合,N-SIM E几乎可以使传统光学显微镜的空间分辨率提高一倍(达到约115nm *),从而帮助用户观察到微小的胞内结构及其相互作用。
* 该值是在3D-SIM模式下,通过测量100nm荧光小球的半高全宽而得(488nm激光激发)。
采用3D-SIM模式的轴向超分辨率
3D-SIM模式生成三维结构化照明图案,使横向和轴向分辨率提高一倍。两种重建方法(“slice”和“stack”)可用于优化结果,根据应用的要求(例如样品厚度、速度等)。Slice重建适用于在特定深度成像的活细胞,因为它支持轴向超分辨率成像,具有300nm分辨率的光学切片。基于Gustafsson理论的可选stack重建适用于采集3D数据,因为它能以比slice重建更高的对比度去成像更厚的样本。
成像模式可在多尺寸实验之间无缝切换
N-SIM E可以与共聚焦显微镜(AX/AX R)相组合。可以在低放大率/大视野共聚焦图像中指定样本中的期望位置,并且通过简单地切换成像方法以获得超分辨率图像。将共聚焦显微镜与超分辨率系统相结合有利于了解超分辨信息的来龙去脉。