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NIS-Elements

Pacote de Aquisição e Análise de Alta demanda

O NIS-Elements HC fornece suporte de aquisição a análise para experimentos de imagem de alta demanda, desde o controle integrado do microscópio invertido motorizado Eclipse Ti2-E da Nikon e dispositivos periféricos, como carregadores de placas e câmeras CCD, até o gerenciamento de dados. A recém-desenvolvida interface de software da Nikon é projetada especificamente para geração de imagens de múltiplos pontos em um poço e através da placa, e trabalha com módulos dedicados de análise automatizada.


Características principais

Velocidade e Flexibilidade

Agiliza a aquisição automatizada de alta velocidade de placas, análise de dados, análise e gerenciamento de experimentos com múltiplas placas.

A interface do NIS-Elements HC simplifica a configuração da experiência usando assistentes. Defina facilmente parâmetros de aquisição, incluindo configuração de placas, manuseio, foco automático, troca de filtros e detectores.


Reveja

Visualização em tempo real da aquisição de dados e progresso da análise para inspeção instantânea. Vários ensaios de análise podem ser executados simultaneamente durante a fase de geração de imagens ou executados após a aquisição em estações offline.


Análise

Mapas de densidade (heat maps) de placas, imagens de amostra, máscaras binárias, resultados de ensaios, rótulos de amostras e outros meta dados são centralizados para filtragem rápida, abertura e detalhamento da célula.


Representação gráfica

Crie gráficos instantaneamente para revisão de dados. Classifique, filtre, bloqueie, rotule os pontos de dados de vários tipos de gráficos diferentes. NIS-Elements oferece histograma, gráfico de dispersão, gráfico de barras, linha XY, classificação e funções de controle. Navegue facilmente dentro da visualizador de placa e exporte para o Excel ou em bitmap.


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NIS-Elements offers advanced 3D and 2D deconvolution modules for improving image quality. Upload your image to our NIS-Elements deconvolution test site to see the difference.

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