USCAP 111th Annual Meeting
mar 19 – 24
Los Angeles Convention CenterLos Angeles, California, USA
Booth 534
The United States & Canadian Academy of Pathology (USCAP) Annual Meeting is one of the largest global pathology events and attracts over 4,000 decision makers and leaders in the fields of molecular, toxicology, oncology, and immunology from hospitals, private laboratories and academic institutions.
Nikon exhibited the following systems at booth 534:
- ECLIPSE Ci-E upright microscope with Digital Sight 10 camera and Lambda D optics
- ECLIPSE Ci-E remote controlled model with DS-Fi3 camera
- ECLIPSE Ci-L plus upright microscope with DS-Fi3 camera
- NIS-Elements D imaging software
- NIS-Elements BR imaging software
- OptraSCAN® OS-15-N digital slide scanner
Featured Products & Services
Serie ECLIPSE Ci
Microscopi dritti ergonomici con eco-illuminazione per applicazioni cliniche e di laboratorio.
Digital Sight 10
L'alta risoluzione di 6K e il cambio fra colori e il bianco e nero con un'unica camera, offre anche un frame rate elevato per una messa a fuoco rapida di immagini ad alta definizione.
DS-Fi3
Fotocamera a colori da 5,9 megapixel che offre immagini a basso rumore e alta risoluzione, un live display rapido e un'eccezionale riproduzione dei colori.
CFI Plan Apochromat Lambda Serie D
Obiettivi ad alte prestazioni con un ampio campo visivo di 25 mm a tutti gli ingrandimenti, che consentono la cattura di complessi fenomeni biologici. Con NA elevato e WD lungo, le immagini in profondità all'interno del campione possono essere catturate chiaramente. Corregge l'aberrazione cromatica su un'ampia gamma di lunghezze d'onda e acquisisce immagini multicolori accurate.
NIS-Elements Documentation
Pacchetto software per fotodocumentazione. Include gli strumenti di base di misurazione e reportistica.
NIS-Elements Basic Research
Sviluppato per applicazioni di ricerca standard, come l'analisi e la fotodocumentazione di immagini fluorescenti, NIS-Elements BR offre funzionalità di acquisizione fino a quattro dimensioni e capacità di controllo avanzato del dispositivo.