超分辨率显微镜系统

应用笔记

结构化照明显微镜(SIM)成像与共聚焦的对比

2018年9月

沿树突的树突棘的超分辨率结构光照明显微成像SIM以前尚未在固定组织中进行,这主要是由于光散射和光学像差引起的激发光条纹图案变差。


Nikon A1和N-SIM用于观察可视化未标记结构的反射成像

2018年1月

反射成像允许用户利用样本反向散射的光获得一张强度图像。高反射标记(包括各种纳米颗粒)允许以非常高的信噪比成像并且几乎没有光漂白,非常适用于共聚焦和结构化照明显微镜。


N-SIM用于核纤层的定量超微结构分析

2016年10月

结构化照明超分辨率显微镜(SIM)可以观察到传统显微镜(如共焦和宽场)无法观察到的细节(尼康提供两款SIM机型,分别是 N-SIM SN-SIM E 。在本应用手册中,我们将了解N-SIM系统如何实现不同核纤层蛋白分布的定量多色评估及其形成的结构。