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高内涵分析

针对高内涵成像应用提供从拍摄到分析的完整解决方案。从显微镜和外围设备控制到数据分析和管理的无缝工作流程。

主要特性

速度和灵活性

简化多个孔板实验的高速自动化孔板拍摄、数据审查、分析和管理。

NIS-Elements HC界面使用向导简化了实验设置。用户可以轻松定义拍摄参数，包括孔板设置、孔板处理、自动对焦、滤光片切换和检测器。

① 定义通用参数

• Z轴扫描
• 样品标记
• 自动对焦
• 任务完成邮件或短信通知

② 定义图像拍摄光学配置

③ 孔板设置

• 定义孔板
• 选择拍摄孔板
• 定义孔内XY拍摄方式

④ 设置图像分析

查看

实时查看数据采集和即时检测的分析进度。多个分析测定可以在成像阶段同时运行，或在拍摄后在离线工作站上运行。

分析

综合多孔板热图、样品图像、二进制模具、样品标签和其他元数据等，以便快速过滤、选择和深入调查细胞的细节。

Plate view

Heat map

Sample labeling

制图

立即创建图表以进行数据审核。从几种不同的图表类型中分类、过滤、平铺、标记数据点。NIS-Elements提供直方图、散点图、条形图、XY线、分类和门控功能。用户可在Plate View中轻松导航并导出到Excel或位图。

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