Nikon Europe B.V. | Europe & Africa
		
		- es Change Region
 - Global Site
 
| CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC  | 
                        |
|---|---|
![]()  | 
              |
| Número material | MRH48430 | 
| Tipo | Super Plan Fluor | 
| Técnica primaria | Contraste de fase apodizado | 
| Inmersión | Aire | 
| Aumento | 40X | 
| Apertura numérica | 0.6 | 
| Distancia de trabajo | 3.6–2.8 | 
| Espesor de la cubierta de vidrio | 0–2 | 
| CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC  | 
              |
|---|---|
| Diagrama (mm)  | 
                        |
| Gráfico | ![]()  | 
              
| CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC  | 
              |
|---|---|
| Campo Claro | adecuado | 
| Campo oscuro | Condensador universal (seco) y anillo de campo oscuro, condensador de campo oscuro (seco / aceite) | 
| DIC | |
| Fluorescencia (visible) | adecuado | 
| Fluorescencia (UV) | adecuado | 
| Fluorescencia (NIR) | |
| Polarizador | |
| Tipo de polarización | |
| Anillo de contraste de fase | ◎PH2 | 
| Tipo de contraste de fase | ADM | 
| CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC  | 
              |
|---|---|
| Collar corrector | ✓ | 
| Cargado de resortes | |
| Iris | |
| Larga distancia de trabajo | ✓ | 
| Compatible con Ti2-E PFS | ✓ | 
| CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40XC  | 
              |
|---|---|
| Amianto | |
| Tejido claro | |
| Laboratorio clínico | |
| Confocal | |
| Educación | |
| Láser de trampa / Tweezing | |
| Multifotón | |
| SIM | |
| STORM | |
| Investigación | ✓ | 
| TIRF | |
| Cultivo de tejidos | ✓ |