规格
| AX-SHS 检流计扫描 | AX-SHR 检流计+共振扫描 | |
|---|---|---|
| 扫描头 | 检流计扫描视野: 25mm 最大扫描分辨率：8192 x 8192 扫描速度：10fps @512 x 512像素；240fps @512x16像素 最长驻留时间：0.2ms 图像旋转：±180° 支持线扫描、双向扫描和平均（线平均和滚动平均） |
检流计扫描视野：25mm 共振扫描视野：25mm 扫描速度：7.5fps @2048 x 2048像素；15fps @2048x1024像素；30fps @2048x512像素；720 fps @2048 x 16像素 *1 支持线扫描、双向扫描和平均（线平均和滚动平均） 实时Denoise.ai降噪功能 |
| 扫描头输入/输出端口 | 标准：一个激光输入端口和一个激光输出端口；FC连接 可选：一个可见光或近红外激光输入端口，可增加一个激光输出端口；FC连接 |
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| 针孔 | 六边形，连续可调，最小针孔：6μm | |
| FOV 视野 | 25mm（1x变倍） | |
| 扫描变倍 | 1-1000x | |
| 激光 | 多达8个可见光/近红外激光器 兼容激光器：（标准）405 nm至750 nm，（可选）730 nm或785 nm用于近红外成像选购件 |
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| 探测器 DUX-VB | 2或4通道（增加近红外成像选购件时为4通道） 可自由调节带宽，精度为±1 nm，多达66条离散光谱通道多达12个带通滤色片 可选择MA-PMT或GaAsP PMT（对于近红外成像组件，请选择Ex Red GaAsP PMT用于730 nm激发，或GaAs PMT用于785 nm激发） |
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| 探测器 DUX-ST | 2 / 4通道 可选MA-PMT或 GaAsP-PMT |
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| NSPARC探测器 | 横向分辨率100 nm*2，轴向分辨率300 nm*2 配备SPPC（单像素光子计数器）阵列探测器 最多可安装7个发射滤光片（支持405 nm、445 nm、488 nm、514 nm、561 nm、594 nm和640 nm波长激发） 使用检流计扫描：可选择XY轴分辨率2至1024像素 使用共振扫描：可选择X轴分辨率256、512和1024像素、Y轴分辨率128至1024像素*3 | |
| 透射探测器 | MA-PMT探测器 | |
| 超分辨率模块 | 支持同时四通道超分辨率成像；分辨率：XY方向120nm，Z方向300nm | |
| Z轴步进 | Ti2-E: 0.01 μm, 0.02 μm (编码器), FN1步进电机: 0.05 μm, Ni-E: 0.025 μm
Piezo Z步进: 最小1.5nm |
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| 兼容显微镜 | Ti2-E倒置显微镜最大 FOV 25 mm |
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| 选配 | 光刺激（点扫描或DMD） FLIM荧光寿命成像（含高速FLIM） 压电陶瓷Z轴（或XYZ三维） 各类培养装置及笼式工作环境 其他模块如TIRF，N-STORM 或 N-SIM S |
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| 软件 | NIS-Elements C或NIS-Elements C-ER成像软件 |
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| 工作站 | Microsoft Windows® 10 64bit/11 专业版 配备 GPU 加速卡 | |
| 推荐安装环境 | 温度23±5˚C，相对湿度≤70%（无冷凝） | |
*1 选配1K模块时：15fps @1024x1024像素；30fps @1024x512像素；720 fps @1024 x 16像素
*2 此参数在488 nm激光激发下，使用40 nm直径荧光小球测量横向分辨率，及使用100 nm直径荧光小球测量轴向分辨率。实际分辨率取决于激光波长和光学配置。
*3 无法选择2048像素分辨率
产品彩页
共聚焦和多光子显微镜
- AX / AX R with NSPARC
- AX R MP with NSPARC
- CSU Series
