AX共聚焦显微镜系统 – 优化检测，提升性能
2021/12/9
美国东部时间09:00
主讲人：
Adam White, Ph.D.
Advanced Microscopy Product Manager, Nikon Instruments Inc.
尼康在设计AX共聚焦显微镜系统时着眼于细微处。我们坚信，这些小改进的总和最终将汇聚为仪器性能的大飞跃。本场演示将详细介绍其中一些优化措施，并为您大力展示此次革新设计为点扫描共聚焦使用方式带来的改头换面。
主办单位：
尼康精机（上海）有限公司 | China
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