应用手册

N-SIM在核纤层超微结构定量分析中的应用

2016年10月

超分辨率结构化照明显微法(SIM)所拍摄到的细胞结构可达到通过衍射极限光学成像法(例如共聚焦显微法)所拍摄的约两倍1。在本应用说明中,我们将着重介绍Shimi等人2的研究, 他们利用尼康N-SIM系统进行定量多色3D-SIM成像,绘制并比较核纤层中核纤层蛋白异构体的分布。