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Microscópio Eletrônico de Varredura de Bancada

Um poderoso, mas econômico, microscópio eletrônico de varredura de bancada da Nikon e da JEOL.

O mais recente em tecnologia de SEM de bancada, o "NeoScopeTM" da JCM-6000Plus é um microscópio de varredura de mesa multifuncional controlado com painel sensível ao toque, que responde às necessidades cada vez mais diversificadas dentre os usuários em todo o mundo. O JCM-6000Plus é equipado com detectores semicondutores de alta sensibilidade encontrados em instrumentos de ponta, facilitando a aquisição de informações de contraste sobre a composição da amostra e permitindo uma análise eficiente. A série continua a incluir a funcionalidade de alto vácuo e o detector de elétrons secundário, oferecendo a capacidade de observar claramente estruturas finas na superfície da amostra em alta ampliação.


Características principais

Sistema de alto desempenho em um modelo compacto e inovador

Operação intuitiva do painel sensível ao toque com nova interface gráfica.

  • Observação morfológica de alta resolução bem focalizada.
  • Elétron secundário, bem como imagem eletrônica de retroespalhamento para distribuição composicional.
  • Tensões de aceleração selecionáveis.
  • Operação de alto e baixo vácuo.
  • Espectroscopia de raios X dispersiva de energia (EDS) com recurso completo e tecnologia SDD (Opcional).
  • Metrologia suportada.
  • Imagem de amostras inclinadas e giradas (opcional).

Compacta, leve e com economia de energia

Corpo compacto igual a um microscópio óptico.

Unidade base: 330 mm (l) x 490 mm (d) x 430 mm (h); 50 kg; Utilitário: Monofásica de 100 V a 240 V, 50/60 Hz, 700 a 960 VA.


Novos recursos para geração de imagens

  • Imagens de elétrons secundários e imagens de elétrons retroespalhadas suportadas em alto vácuo.
  • O novo detector de elétrons retroespalhados de alta sensibilidade em estado sólido, fornece informações de composição e imagem topográfica.
  • Imagens de quadro duplo para facilitar a comparação de imagens ao vivo e previamente obtidas.
  • Uma ampla faixa de ampliação de 10x (para ampla área de visão) até 60.000x.

Capacidade aprimorada de baixo vácuo

  • Novo detector de elétrons retroespalhados em estado sólido.
  • Fácil observação de amostras não condutivas no modo de baixo vácuo direto.
  • Apenas 2 minutos e 30 segundos do carregamento da amostra até a imagem.

Operação simples

  • Operação do painel sensível ao toque.
  • Uma gama completa de funções automatizadas (foco automático, estigma automático, contraste / brilho automático).
  • Alinhamento canhão de forma automática fácil e confiável (centragem de filamentos).

Suporte da transmissão do motor de inclinação / rotação

O suporte da amostra do motor de rotação / inclinação permite ao operador inclinar e girar a amostra para observação morfológica 3D bem focalizada.


Acessórios opcionais

Espectrômetro de raios X por dispersão de energia (EDS) para análise elementar

  • Espectrômetro de raios-X dispersivo de energia (EDS) para análise elementar.
  • EDS proprietário da JEOL.
  • Suporte ao cliente rápido e confiável garante satisfação.

* Esta opção é retrofitível