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Microscope électronique de paillasse à balayage

Microscope électronique à balayage puissant et économique de Nikon et JEOL.

Dernier né de la technologie SEM de paillasse, le JCM-6000Plus "NeoScopeTM" est un microscope de numérisation de bureau multifonction contrôlé par écran tactile qui répond aux besoins de plus en plus diversifiés des utilisateurs du monde entier. Le JCM-6000Plus est équipé de détecteurs à semi-conducteurs de haute sensibilité que l'on trouve dans les instruments haut de gamme, ce qui facilite l'acquisition d'informations de contraste sur la composition des échantillons et permet une analyse efficace. La série continue d'inclure la fonctionnalité de vide poussé et le détecteur d'électrons secondaires, offrant la possibilité d'observer clairement les structures fines sur la surface de l'échantillon à fort grossissement.


Caractéristiques-clés

Système de haute performance dans un modèle compact et innovant

Fonctionnement intuitif de l'écran tactile avec nouvelle interface graphique.

  • Observation morphologique à haute résolution bien ciblée.
  • Imagerie secondaire des électrons et des électrons rétrodiffusés pour la distribution compositionnelle.
  • Tensions d'accélération sélectionnables.
  • Fonctionnement sous vide élevé et faible.
  • Spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie complète avec technologie SDD (en option).
  • Métrologie soutenue.
  • Imagerie d'échantillons inclinés et pivotés (facultatif).

Compact, léger et économique en énergie

Corps compact égal à un microscope optique.

Unité de base 330 mm (L) x 490 mm (D) x 430 mm (H); 50 kg Utilitaire: Monophasé 100 V à 240 V, 50/60 Hz, 700 à 960 VA.


Nouvelles fonctionnalités pour l'imagerie

  • Imagerie électronique secondaire et imagerie d'électrons rétrodiffusés supportée sous vide poussé.
  • Le nouveau détecteur d’électrons rétrodiffusés à semi-conducteurs de haute sensibilité fournit des informations sur la composition et l’imagerie topographique.
  • Imagerie à double trame pour faciliter la comparaison des images en direct et des images récupérées.
  • Une large plage de grossissements de 10x (pour une large zone de vision) jusqu'à 60 000x.

Capacité de vide réduite

  • Nouveau détecteur d'électrons rétrodiffusés à l'état solide.
  • Observation facile d’échantillons non conducteurs dans le mode vide direct.
  • Seulement 2 minutes 30 secondes entre le chargement de l'échantillon et l'imagerie.

Opération simple

  • Fonctionnement facile du panneau tactile.
  • Une gamme complète de fonctions automatisées (mise au point automatique, stigmateur automatique, contraste / luminosité automatique).
  • Alignement de pistolet automatique facile et fiable (centrage des filaments).

Support de moteur d'inclinaison / rotation

Le porte-spécimen d'entraînement du moteur d'inclinaison / rotation permet à l'opérateur d'incliner et de faire pivoter l'échantillon pour une observation morphologique 3D bien ciblée.


Accessoires optionnels

Spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire

  • Spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire.
  • Propriétaire EDS de JEOL.
  • Un support client rapide et fiable garantit la satisfaction.

* Cette option est adaptable