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Microscopio electrónico de barrido de mesa

Un microscopio electrónico de barrido potente pero económico de Nikon y JEOL.

Lo último en tecnología SEM de mesa, el "NeoScopeTM" de JCM-6000 Plus es un microscopio de barrido de mesa de trabajo multifuncional controlado por un panel táctil que responde a las necesidades cada vez más diversificadas en los usuarios de todo el mundo. El JCM-6000Plus está equipado con detectores semiconductores de alta sensibilidad que se encuentran en instrumentos de alta gama, lo que facilita la adquisición de información de contraste sobre la composición de los especímenes y permite un análisis eficiente. La serie continúa incluyendo la funcionalidad de alto vacío y el detector de electrones secundario, que ofrece la capacidad de observar claramente las estructuras finas en la superficie de la muestra con gran aumento.


Características principales

Sistema de alto rendimiento en un modelo compacto e innovador

Funcionamiento intuitivo del panel táctil con el nuevo GUI.

  • Observación morfológica de alta resolución bien enfocada.
  • Adquisición de imágenes tanto de electrones secundarios, así como de electrones retrodispersados para la distribución de la composición.
  • Voltajes de aceleración seleccionables.
  • Operación de vacío alto y bajo.
  • Espectroscopia de rayos X con dispersión de energía completa (EDS) con tecnología SDD (opcional).
  • Metrología compatible.
  • Imágenes de muestras giradas e inclinadas (Opcional).

Compacto, liviano y de bajo consumo

Cuerpo compacto igual a un microscopio óptico. Unidad base: 330 mm (W) x 490 mm (D) x 430 mm (H); 50 kg; Utilidad: Una fase de 100 V a 240 V, 50/60 Hz, 700 a 960 VA.


Nuevas capacidades para la adquisición imágenes

  • Adquisición de imágenes de electrón secundario y de imágenes electróni retrodispersadas soportadas a alto vacío.
  • El nuevo detector de electrones retrodispersados ​​de estado sólido de alta sensibilidad proporciona información de composición y de imágenes topográficas.
  • Imágenes de tramos dobles para facilitar la comparación de imágenes en vivo y recuperadas.
  • Un amplio rango de ampliación desde 10x (para área de visión amplia) hasta 60,000x.

Capacidad mejorada de bajo vacío

  • Nuevo detector de electrones retrodispersado de estado sólido.
  • Fácil observación de muestras no conductoras en el modo de vacío directo.
  • Solo 2 minutos y 30 segundos desde la carga de la muestra hasta la obtención de imágenes.

Operación simple

  • Fácil operación del panel táctil.
  • Una gama completa de funciones automáticas (enfoque automático, stigmator,automático, contraste automático / brillo).
  • Alineación de pistola automática fácil y confiable (centrado de filamentos).

Soporte de la unidad de motor de inclinación / rotación

El soporte de la muestra de accionamiento del motor de inclinación / rotación permite al operador inclinar y girar la muestra para una observación morfológica en 3D bien enfocada.


Accesorios Opcionales

Espectrómetro de rayos X de energía dispersiva (EDS) para análisis elemental

  • Espectrómetro de rayos X de energía dispersiva (EDS) para análisis elemental.
  • EDS propietario de JEOL.
  • La atención al cliente rápida y confiable garantiza la satisfacción.

* Esta opción puede actualizarse.