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Benchtop-Rasterelektronenmikroskop

Ein leistungsstarkes und dennoch wirtschaftliches Tisch-Rasterelektronenmikroskop von Nikon und JEOL.

Das neuste in der Benchtop-SEM-Technologie, das JCM-6000Plus "NeoScopeTM" ist ein Touch-Panel-gesteuertes, multifunktionales Desktop-Scanning-Mikroskop, das den zunehmend diversifizierten Bedürfnissen der Anwender weltweit gerecht wird. Der JCM-6000Plus ist mit den hochempfindlichen Halbleiterdetektoren ausgestattet, die in High-End-Geräten verwendet werden. Dadurch können Kontrastinformationen über die Probenzusammensetzung leicht erfasst und eine effiziente Analyse ermöglicht werden. Die Serie umfasst weiterhin die Hochvakuumfunktionalität und den Sekundärelektronendetektor und bietet die Möglichkeit, feine Strukturen auf der Probenoberfläche bei hoher Vergrößerung klar aufzunehmen.


Hauptmerkmale

Hochleistungssystem in einem kompakten, innovativen Modell

Intuitiver Touch-Panel-Betrieb mit neuer GUI.

  • Gut fokussierte hochauflösende morphologische Beobachtung.
  • Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronen-Bildgebung für die Kompositionsverteilung.
  • Wählbare Beschleunigungsspannungen.
  • Hoch- und Niedervakuumbetrieb.
  • Voll ausgestattete energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) mit SDD-Technologie (optional).
  • Metrologie unterstützt.
  • Abbildung von geneigten, gedrehten Proben (optional).

Kompakt, leicht und energiesparend

Kompakter Körper einem optischen Mikroskop gleichwertig.

Basiseinheit 330 mm (B) · 490 mm (D) · 430 mm (H); 50 kg; Gewicht: Einphasig 100 V bis 240 V, 50/60 Hz, 700 bis 960 VA.


Neue Möglichkeiten für die Bildgebung

  • Sekundärelektronenbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung können wegen des Hochvakuum durchgeführt werden.
  • Neuer hochempfindlicher Festkörper-Rückstreuelektronendetektor liefert sowohl Informationen zur Zusammensetzung als auch zur Topographie der Probe.
  • Dual-Frame-Bildgebung für den Vergleich von Live- und aufgerufenen Bildern.
  • Ein großer Vergrößerungsbereich von 10x (für ein großes Sichtfeld) bis zu 60.000x.

Verbesserte Niedrig-Vakuum-Fähigkeit

  • Neuer Festkörper-Rückstreuelektronendetektor.
  • Einfache Beobachtung von nicht leitenden Proben im direkten Niedrig-Vakuum-Modus.
  • Nur 2 Minuten 30 Sekunden vom Laden der Probe bis zum Imaging.

Einfache Bedienung

  • Einfacher Touch-Panel-Betrieb.
  • Eine vollständige Palette von automatisierten Funktionen (Autofokus, Auto-Stigmator, Auto-Kontrast / Helligkeit).
  • Einfache, zuverlässige automatische Fokussierung und Ausrichtung des Elektronenstrahls (Fadenzentrierung).

Kipp- / Drehmotorantriebs-Halter

Der Neigungs- / Rotationsmotorantriebs-Probenhalter ermöglicht es dem Bediener die Probe für eine gut fokussierte 3D-Morphologiebeobachtung zu neigen und zu drehen.


Optionales Zubehör

Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) für die Elementaranalyse

  • Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) für die Elementaranalyse.
  • JEOLs proprietäres EDS.
  • Schnelle, zuverlässige Kundenbetreuung garantiert Zufriedenheit.

* Diese Option ist nachrüstbar